一種單晶硅片表面微納米復合結構的制備方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202210359610.5 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN114686989A | 公開(公告)日 | 2022-07-01 |
| 申請公布號 | CN114686989A | 申請公布日 | 2022-07-01 |
| 分類號 | C30B33/10(2006.01)I;C30B29/06(2006.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
| 發(fā)明人 | 王冰;潘連勝;商劍;何翠翠;秦朗;齊錦剛;趙作福;劉亮 | 申請(專利權)人 | 遼寧工業(yè)大學 |
| 代理機構 | 北京遠大卓悅知識產權代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 121001遼寧省錦州市太和區(qū)解放西路94號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種單晶硅片表面微納米復合結構的制備方法,包括:步驟一、將單晶硅片進行清洗;步驟二、對所述單晶硅片進行表面去損傷;步驟三、將所述單晶硅片放入質量分數為3.5%的NaOH溶液和體積分數為5%的正丁醇的混合溶液中,75℃水浴40min后,沖洗;步驟四、將所述單晶硅片放入質量分數為40%的H2O2、質量分數為35%的HF溶液和1.4g Cu(NO3)2的混合溶液中,45℃水浴60min后,清洗;步驟五、將所述單晶硅片放入質量分數為5%的NH4OH和質量分數為5%的H2O2的混合溶液中,25℃水浴2min,清洗后獲得表面帶有微納米復合結構的單晶硅片。本發(fā)明具有降低單晶硅片表面反射率的特點。 |





