一種提高NaI能譜儀高能區(qū)射線解譜能力的裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201420778582.1 申請日 -
公開（公告）號 CN204215048U 公開（公告）日 2015-03-18
申請公布號 CN204215048U 申請公布日 2015-03-18
分類號 G01T1/36(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 趙孝文;吳珂;韓旭;高雅娟;萬志偉;李北城 申請（專利權(quán)）人 黑龍江省中貝技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 代理人 胡樹發(fā)
地址 150090 黑龍江省哈爾濱市南崗區(qū)嵩山路15號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種提高NaI能譜儀高能區(qū)射線解譜能力的裝置，屬于核儀器儀表領(lǐng)域，涉及一種提高NaI能譜儀解譜能力的裝置。本實用新型是為了解決現(xiàn)有NaI能譜儀在高能區(qū)峰形過寬同時峰值幅度過低，進(jìn)而導(dǎo)致利用現(xiàn)有的能譜分析方法進(jìn)行尋峰很困難，NaI能譜儀解譜能力低的問題。本實用新型所述的一種提高NaI能譜儀高能區(qū)射線解譜能力的裝置，通過時鐘脈沖調(diào)節(jié)器5將能譜高能區(qū)進(jìn)行劃分，還能夠通過甄別器具有的調(diào)節(jié)閾值電壓的功能對閾值電壓進(jìn)行調(diào)節(jié)，進(jìn)而對能譜的高能區(qū)全能峰峰值幅度進(jìn)行調(diào)節(jié)，更易于利用現(xiàn)有的能譜分析方法進(jìn)行尋峰，最終達(dá)到提高NaI能譜儀高能區(qū)射線解譜能力的目的。適用于提高NaI能譜儀高能區(qū)的射線解譜能力。