一種利用芯片引腳特性測(cè)試電路開(kāi)短路的裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201922116429.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN211402631U 公開(kāi)(公告)日 2020-09-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN211402631U 申請(qǐng)公布日 2020-09-01
分類號(hào) G01R31/28;G01R31/52;G01R31/54 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 徐歡夏 申請(qǐng)(專利權(quán))人 江蘇聯(lián)康信息股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 肖玲珊
地址 223700 江蘇省宿遷市泗陽(yáng)縣經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)東區(qū)(珠海路29號(hào))
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種利用芯片引腳特性測(cè)試電路開(kāi)短路的裝置,包括測(cè)試裝置和待測(cè)集成電路,測(cè)試裝置包括DC輸入模塊、顯示模塊、穩(wěn)壓電路、微處理器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器和模擬復(fù)用器,待測(cè)集成電路包括保護(hù)二極管,顯示模塊和模數(shù)轉(zhuǎn)換器連接在微處理器的相應(yīng)端口上,模擬復(fù)用器輸入端與待測(cè)集成電路的PIN腳連接,模擬復(fù)用器輸出端與模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入端連接,解決了集成電路中每個(gè)管腳與VDD和GND都有保護(hù)二極管,且保護(hù)二極管都是以串列方式存在,當(dāng)串列中有其中一發(fā)光二極管損毀就會(huì)發(fā)生短路,造成高電流、高電壓聚集在集成電路上,會(huì)造成整個(gè)串列的燒壞,因此需要對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題。