一種半導(dǎo)體疊陣
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202120663280.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN214378492U | 公開(公告)日 | 2021-10-08 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN214378492U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-10-08 |
| 分類號(hào) | H01L33/64(2010.01)I;H01L21/66(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 雷謝福;李靖;惠利省;張艷春;趙衛(wèi)東;楊國文 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 度亙核芯光電技術(shù)(蘇州)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 張洋 |
| 地址 | 215000江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號(hào)西北區(qū)20幢215、217室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N半導(dǎo)體疊陣,涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,包括多組層疊設(shè)置的芯片結(jié)構(gòu)組和導(dǎo)流結(jié)構(gòu),芯片結(jié)構(gòu)組包括芯片,以及分別設(shè)在芯片的發(fā)光面兩側(cè)的電極片和散熱片;其中,芯片、電極片和散熱片之間電連接,電極片用于在芯片和散熱片連接后,檢測(cè)芯片的性能;導(dǎo)流結(jié)構(gòu)與散熱片對(duì)應(yīng)設(shè)置,通過導(dǎo)流結(jié)構(gòu)對(duì)散熱片散熱。芯片工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生熱量,通過散熱片對(duì)芯片散熱,以降低芯片的工作溫度。電極片用于測(cè)試芯片性能,測(cè)試合格的芯片組成的芯片結(jié)構(gòu)組層疊設(shè)置后封裝,以形成半導(dǎo)體疊陣。通過設(shè)置導(dǎo)流結(jié)構(gòu),加速對(duì)芯片的散熱。 |





