一種用于核磁共振成像系統(tǒng)的渦流測(cè)量及補(bǔ)償方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201110141783.1 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN102298129B 公開（公告）日 2014-07-09
申請(qǐng)公布號(hào) CN102298129B 申請(qǐng)公布日 2014-07-09
分類號(hào) G01R33/387(2006.01)I;G01R33/48(2006.01)I;G01N24/08(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 唐昕;王濤;姜忠德 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 蘇州溫度影像科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 215126 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)興浦路128號(hào)K棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種用于核磁共振成像系統(tǒng)的渦流測(cè)量及補(bǔ)償方法，其特征在于，包括以下步驟：（1）使用核磁共振成像系統(tǒng)對(duì)樣品施加一個(gè)梯度脈沖；（2）使用90°脈沖激發(fā)樣品并采集90°脈沖激發(fā)之后樣品產(chǎn)生的自由衰減信號(hào)；（3）用多指數(shù)函數(shù)擬合所述自由衰減信號(hào)的時(shí)間序列，得到所需的校正參數(shù)；（4）將所述校正參數(shù)輸出到譜儀中實(shí)現(xiàn)渦流補(bǔ)償。本發(fā)明提供的渦流測(cè)量序列能夠高效率地采集完整的渦流相位信息；測(cè)試支架能夠精確定位樣品位置；采用四組指數(shù)函數(shù)模型，能夠快速、精確地?cái)M合出渦流曲線；通過多次迭代校正幅度常數(shù)，實(shí)現(xiàn)了補(bǔ)償效果的最優(yōu)化。