一種用于核磁共振成像系統(tǒng)的渦流測量及補償方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201110141783.1 申請日 -
公開（公告）號 CN102298129A 公開（公告）日 2011-12-28
申請公布號 CN102298129A 申請公布日 2011-12-28
分類號 G01R33/387(2006.01)I;G01R33/48(2006.01)I;G01N24/08(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 唐昕;王濤;姜忠德 申請（專利權(quán)）人 蘇州溫度影像科技有限公司
代理機構(gòu) 蘇州創(chuàng)元專利商標事務所有限公司 代理人 蘇州安科醫(yī)療系統(tǒng)有限公司;蘇州朗潤醫(yī)療系統(tǒng)有限公司
地址 215126 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)興浦路128號K棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種用于核磁共振成像系統(tǒng)的渦流測量及補償方法，其特征在于，包括以下步驟：（1）使用核磁共振成像系統(tǒng)對樣品施加一個梯度脈沖；（2）使用90°脈沖激發(fā)樣品并采集90°脈沖激發(fā)之后樣品產(chǎn)生的自由衰減信號；（3）用多指數(shù)函數(shù)擬合所述自由衰減信號的時間序列，得到所需的校正參數(shù)；（4）將所述校正參數(shù)輸出到譜儀中實現(xiàn)渦流補償。本發(fā)明提供的渦流測量序列能夠高效率地采集完整的渦流相位信息；測試支架能夠精確定位樣品位置；采用四組指數(shù)函數(shù)模型，能夠快速、精確地擬合出渦流曲線；通過多次迭代校正幅度常數(shù)，實現(xiàn)了補償效果的最優(yōu)化。