一種OTDR性能評估裝置及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810725343.2 申請日 -
公開（公告）號 CN109004973B 公開（公告）日 2021-09-07
申請公布號 CN109004973B 申請公布日 2021-09-07
分類號 H04B10/071（2013.01）I 分類 電通信技術(shù);
發(fā)明人 王卓念;張輝;李文興;張國茂;李建征;龍陽 申請（專利權(quán)）人 廣電計量檢測集團股份有限公司
代理機構(gòu) 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 代理人 顏希文;宋靜娜
地址 510630廣東省廣州市天河區(qū)黃埔大道西平云路163號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明的OTDR性能評估裝置，包括OTDR和盤裝標準光纖，標準光纖具有光纖連接頭，OTDR和標準光纖通過標準光纖的光纖連接頭相連。本發(fā)明的OTDR性能評估方法，利用OTDR和標準光纖進行光纖損耗特性測試；將OTDR和標準光纖一端的光纖連接頭相連，標準光纖另一端的光纖連接頭與光纖發(fā)射鏡相連，進行光纖長度測試；將OTDR和標準光纖一端的光纖連接頭相連，標準光纖另一端的光纖連接頭與光纖光阱相連，進行動態(tài)范圍、盲區(qū)測試。本發(fā)明的OTDR性能評估裝置及方法能夠?qū)崿F(xiàn)對OTDR的長度、損耗等測試功能以及動態(tài)范圍、盲區(qū)等自身性能進行檢測的功能，在不影響測試精度的前提下使整個裝置更小且更輕便，功能覆蓋面更廣。