基于外延層的X射線檢測器及其制備方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201980087441.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113302485A 公開（公告）日 2021-08-24
申請(qǐng)公布號(hào) CN113302485A 申請(qǐng)公布日 2021-08-24
分類號(hào) G01N23/223（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 曹培炎;劉雨潤 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳幀觀德芯科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 518071廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道塘朗社區(qū)信宜五路13號(hào)塘朗工業(yè)B區(qū)集悅城眾創(chuàng)產(chǎn)業(yè)園52棟201
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本文公開一種方法，其包括：在支撐在襯底（411）上的外延層（412）的第一表面（412A）上形成電觸點(diǎn)（119B），所述第一表面（412A）與所述襯底（411）相對(duì)；將所述外延層（412）鍵合至電子器件層（120），其中所述第一表面（412A）面向所述電子器件層（120），并且所述第一表面（412A）上的所述電觸點(diǎn)（119B）被鍵合至所述電子器件層（120）的所述電觸點(diǎn)（120X）；通過移動(dòng)所述襯底（411）而暴露與所述第一表面（412A）相對(duì)的第二表面（412B）；并且在所述第二表面（412B）上形成公共電極（119A）。