一種IGBT/SiC器件損耗自動檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202120524267.6 申請日 -
公開（公告）號 CN215263832U 公開（公告）日 2021-12-21
申請公布號 CN215263832U 申請公布日 2021-12-21
分類號 G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 孫厚強;張高瑞;秦浩楠;李小偉;王知學 申請（專利權）人 青島中微創(chuàng)芯電子有限公司
代理機構 上海精晟知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 張仁杰
地址 266500山東省青島市黃島區(qū)太白山路172號青島中德生態(tài)園雙創(chuàng)中心311室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種IGBT/SiC器件損耗自動檢測裝置，包括依次傳遞數(shù)據(jù)的IGBT/SiC器件控制電路模塊、驅(qū)動模塊與IGBT/SiC器件，本實用新型通過IGBT/SiC器件損耗自動檢測裝置可以實時監(jiān)控IGBT/SiC功率器件工作狀態(tài)，提升應用系統(tǒng)運行的安全性及可靠性，大大降低系統(tǒng)工作維護成本，避免由于應用系統(tǒng)故障導致的人身事故及財產(chǎn)損；可有效保護硬件電路安全，降低設備故障率。