一種IGBT/SiC器件損耗自動檢測裝置及其檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110269813.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113125923A 公開（公告）日 2021-07-16
申請公布號 CN113125923A 申請公布日 2021-07-16
分類號 G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 孫厚強;張高瑞;秦浩楠;李小偉;王知學(xué) 申請（專利權(quán)）人 青島中微創(chuàng)芯電子有限公司
代理機構(gòu) 上海精晟知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張仁杰
地址 266500山東省青島市黃島區(qū)太白山路172號青島中德生態(tài)園雙創(chuàng)中心311室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種IGBT/SiC器件損耗自動檢測裝置及其檢測方法，包括依次傳遞數(shù)據(jù)的IGBT/SiC器件控制電路模塊、驅(qū)動模塊與IGBT/SiC器件，本發(fā)明通過IGBT/SiC器件損耗自動檢測裝置可以實時監(jiān)控IGBT/SiC功率器件工作狀態(tài)，提升應(yīng)用系統(tǒng)運行的安全性及可靠性，大大降低系統(tǒng)工作維護成本，避免由于應(yīng)用系統(tǒng)故障導(dǎo)致的人身事故及財產(chǎn)損；可有效保護硬件電路安全，降低設(shè)備故障率。