溫度傳感器芯片全溫范圍內(nèi)精度的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110573695.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113340468A 公開（公告）日 2021-09-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN113340468A 申請(qǐng)公布日 2021-09-03
分類號(hào) G01K15/00（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 胡月明 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海申矽凌微電子科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海段和段律師事務(wù)所 代理人 李佳俊;郭國(guó)中
地址 201108上海市閔行區(qū)虹梅南路2588號(hào)1幢A320室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種溫度傳感器芯片全溫范圍內(nèi)精度的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)及方法，包括：標(biāo)準(zhǔn)溫度發(fā)生器，產(chǎn)生溫度傳感器精度測(cè)試所需的溫度；PC機(jī)，與標(biāo)準(zhǔn)溫度發(fā)生器和被測(cè)溫度傳感器芯片連接；上位機(jī)軟件：控制標(biāo)準(zhǔn)溫度發(fā)生器，讀取溫度傳感器芯片溫度，自動(dòng)完成溫度傳感器芯片全溫度范圍內(nèi)精度測(cè)試。本發(fā)明提供的自動(dòng)化測(cè)試的方法可以縮短溫度芯片的全溫測(cè)試時(shí)間，減少測(cè)試人員投入，避免測(cè)試中的人為主觀影響和干擾，較大地提高了測(cè)試效率和測(cè)試結(jié)果可靠性。