一種測試向量的無損壓縮和解壓縮方法

基本信息

申請?zhí)?/td> PCT/CN2020/115359 申請日 -
公開（公告）號 WO2021052329A1 公開（公告）日 2021-03-25
申請公布號 WO2021052329A1 申請公布日 2021-03-25
分類號 H03M7/30 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 CHEN, TING;陳廷 申請（專利權(quán)）人 上海御渡半導(dǎo)體科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 SHANGHAI TIANCHEN INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY;上海天辰知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙)
地址 WANG, Zoe,2F, Building 2, First Block, Gangcheng Square, NO.128, Yunjaun Rd, Pudong,Shanghai 201306 CN
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種測試向量的無損壓縮方法，包括如下步驟：S01：將測試向量轉(zhuǎn)換為A行B列的數(shù)據(jù)流，所述數(shù)據(jù)流采用二進(jìn)制表示；S02：依次對數(shù)據(jù)流進(jìn)行逐列壓縮，形成每一列數(shù)據(jù)對應(yīng)的壓縮字和非壓縮字；具體對每一列數(shù)據(jù)進(jìn)行壓縮方法為：設(shè)置寬度為1bit深度為M行的窗口，將窗口從該列數(shù)據(jù)的頂部開始逐行向下滑行，依次形成每一列的壓縮字和非壓縮字；S03：將每一列數(shù)據(jù)的壓縮數(shù)據(jù)進(jìn)行匯合，形成壓縮數(shù)據(jù)流。本發(fā)明提供一種測試向量的無損壓縮和解壓縮方法，壓縮方法簡單快速，可適用于ATE測試領(lǐng)域。