一種電子元器件累計(jì)劑量輻照試驗(yàn)支架

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202020533536.0 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN212301618U 公開(公告)日 2021-01-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN212301618U 申請(qǐng)公布日 2021-01-05
分類號(hào) G01R1/04(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 何亮;易軍;譚小雄;張經(jīng)恒 申請(qǐng)(專利權(quán))人 深圳市金鵬源輻照技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市遠(yuǎn)方鼎立知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 劉飛燕
地址 518000廣東省深圳市羅湖區(qū)東盛路68號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種電子元器件累計(jì)劑量輻照試驗(yàn)支架,包括底座殼和試驗(yàn)支架,所述底座殼的中部固定連接有收納槽,所述收納槽的頂部固定連接有試驗(yàn)支架,所述收納槽的內(nèi)部滑動(dòng)連接有劑量盒。該電子元器件累計(jì)劑量輻照試驗(yàn)支架,通過透明蓋體和放大鏡片的設(shè)置,透明蓋體翻轉(zhuǎn)調(diào)整至底座殼的頂部,使其整體對(duì)試驗(yàn)支架外圍起到密封遮擋的作用,而其中部安裝的放大鏡片方便了試驗(yàn)人員對(duì)檢測(cè)器件的精確觀察,更降低了檢測(cè)器件對(duì)試驗(yàn)人員造成的輻射危害情況,通過收納槽和劑量盒的設(shè)置,對(duì)可能出現(xiàn)滴漏液體情況提供底部收納的作用,方便了試驗(yàn)人員在后期的衛(wèi)生處理性,更是間接降低了劑量造成的二次輻照危害影響。??