TOF測距裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021520243.5 申請日 -
公開（公告）號 CN212749253U 公開（公告）日 2021-03-19
申請公布號 CN212749253U 申請公布日 2021-03-19
分類號 G01S17/10(2020.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張義榮 申請（專利權(quán)）人 傳周半導(dǎo)體科技（上海）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京久維律師事務(wù)所 代理人 邢江峰
地址 200003上海市浦東新區(qū)中國（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)臨港新片區(qū)海洋一路333號1號樓、2號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供一種TOF測距裝置，包括：基板，設(shè)置有第一階梯、第二階梯以及第三階梯；發(fā)射模塊，設(shè)置在所述基板的第一階梯上，用于向目標(biāo)物發(fā)射光信號；接收模塊，設(shè)置在所述基板的第二階梯上，用于接收由所述目標(biāo)物反射回的所述光信號；以及控制模塊，設(shè)置在所述基板的第三階梯上，用于控制發(fā)射模塊向目標(biāo)物發(fā)射光信號，并控制接收模塊接收由所述目標(biāo)物反射回的所述光信號，以及計(jì)算所述發(fā)射模塊發(fā)射的所述光信號與所述接收模塊接收到的所述光信號的時間差，并基于所述時間差獲取所述目標(biāo)物的距離。??