一種半導體晶圓加工中漿料的動態(tài)替換控制方法及系統(tǒng)
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202010325280.9 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN111546214B | 公開(公告)日 | 2022-04-22 |
| 申請公布號 | CN111546214B | 申請公布日 | 2022-04-22 |
| 分類號 | B24B29/02(2006.01)I;B24B57/00(2006.01)I;B24B57/02(2006.01)I;B24B49/00(2012.01)I;H01L21/67(2006.01)I | 分類 | 磨削;拋光; |
| 發(fā)明人 | 李瑞評;曾柏翔;劉增偉;陳銘欣 | 申請(專利權)人 | 福建晶安光電有限公司 |
| 代理機構 | 北京漢之知識產權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 高園園 |
| 地址 | 362411福建省泉州市安溪縣湖頭鎮(zhèn)橫山村光電產業(yè)園 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種半導體晶圓加工中漿料的動態(tài)替換控制方法及系統(tǒng),該控制方法主要包括以下幾個模式:配制漿料、對漿料進行動態(tài)替換及對漿料中舊液進行定量抽取排放;該控制方法可以實時監(jiān)測漿料中的酸堿濃度、比重及液位,并根據監(jiān)測的酸堿濃度、比重及液位計算出所需要補充的酸液、堿液、磨液/磨料及水的量,定量地向漿料中補充有效成分;同時,該控制方法也可以對漿料中的舊液定量進行抽取排放和動態(tài)替換,使拋光制程中漿料的有效成分一直處于平衡狀態(tài),減少人員操作的誤差,提高了拋光制程中加工能力的穩(wěn)定性。 |





