一種IGBT驅(qū)動(dòng)單板智能檢測(cè)系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210354711.3 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN114509656A 公開(kāi)（公告）日 2022-05-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN114509656A 申請(qǐng)公布日 2022-05-17
分類號(hào) G01R31/26（2014.01）I;G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I;G01R1/073（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 朱丹丹 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 杭州飛仕得科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州五洲普華專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 -
地址 311100浙江省杭州市余杭區(qū)東湖街道龍船塢路96號(hào)1幢2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種IGBT驅(qū)動(dòng)單板智能檢測(cè)系統(tǒng)，涉及電路測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域，是一種包括了背板、控制模塊、采樣板、適配板的全新老化系統(tǒng)架構(gòu)，所述IGBT驅(qū)動(dòng)單板智能檢測(cè)系統(tǒng)根據(jù)控制指令控制采樣板在老化IGBT驅(qū)動(dòng)單板過(guò)程中穿插進(jìn)行功能測(cè)試，再根據(jù)在老化過(guò)程中得到的功能參數(shù)對(duì)IGBT驅(qū)動(dòng)單板的批次性差異以及高溫失效性進(jìn)行判斷，從而降低了IGBT驅(qū)動(dòng)單板后期使用的失效率。