一種基于深度學(xué)習的芯片配置設(shè)計方法、裝置及介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210133552.4 申請日 -
公開（公告）號 CN114218887B 公開（公告）日 2022-06-24
申請公布號 CN114218887B 申請公布日 2022-06-24
分類號 G06F30/392;G06F30/27;G06N20/00 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 樊良輝;孫建康;陳成;張競丹 申請（專利權(quán)）人 芯瞳半導(dǎo)體技術(shù)（山東）有限公司
代理機構(gòu) 西安維英格知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 李斌棟;沈寒酉
地址 710065 陜西省西安市高新區(qū)丈八街辦丈八一路3號旺都1幢2單元11層21101號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實施例公開了一種基于深度學(xué)習的芯片配置設(shè)計方法，裝置及介質(zhì)；該方法可以包括：確定實現(xiàn)待設(shè)計芯片的功能單元類型；基于各功能單元類型的特性設(shè)置各功能單元類型對應(yīng)的屬性信息；從各功能單元類型的候選功能單元中選擇各功能單元類型對應(yīng)的目標功能單元加入到待設(shè)計芯片的布局；基于設(shè)定的深度學(xué)習算法將所有目標功能單元按照設(shè)定的約束條件進行布局布線，直至按照所述約束條件對布局布線的評價表征值最大。