接觸電阻的測量方法及其測量裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201610316308.6 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN105738704B | 公開(公告)日 | 2019-03-05 |
| 申請公布號 | CN105738704B | 申請公布日 | 2019-03-05 |
| 分類號 | G01R27/08;H02S50/10 | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 閆麗;張聞斌;王琪;顧凱;陸軍威 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州協(xié)鑫集成科技工業(yè)應(yīng)用研究院有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 蘇州協(xié)鑫集成科技工業(yè)應(yīng)用研究院有限公司;協(xié)鑫集成科技(蘇州)有限公司;協(xié)鑫集成科技股份有限公司 |
| 地址 | 215000 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)鐘慧路58號2幢125室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明涉及光伏領(lǐng)域,具體公開了一種接觸電阻的測量方法,包括如下步驟:將光生伏特體外部短路;用開爾文掃描探針以非接觸式方式與光源同步逐個(gè)掃描所述光生伏特體表面的各個(gè)掃描點(diǎn),并得到每個(gè)所述掃描點(diǎn)的光電壓Vp,同時(shí)記錄每個(gè)所述掃描點(diǎn)所對應(yīng)的所述光生伏特體的外部短路電流I;按照公式Rcl=C·Vp/I,計(jì)算得到每個(gè)掃描點(diǎn)的接觸電阻;其中,C為經(jīng)驗(yàn)修正因子。上述接觸電阻的測量方法,可實(shí)現(xiàn)太陽能電池的接觸電阻的無損檢測;同時(shí)無需對太陽能電池進(jìn)行特殊的電極設(shè)計(jì),并且能夠?qū)φ麄€(gè)太陽能電池進(jìn)行面掃描。另外該方法還適于測量異質(zhì)結(jié)太陽能電池。本發(fā)明還公開了一種接觸電阻的測量裝置。 |





