一種霍爾效應(yīng)電壓確定方法及霍爾測(cè)試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010288145.1 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN111474456B 公開(公告)日 2021-03-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN111474456B 申請(qǐng)公布日 2021-03-05
分類號(hào) G01R33/07(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I;G01N27/72(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 郭帥;馮巍 申請(qǐng)(專利權(quán))人 新磊半導(dǎo)體科技(蘇州)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京品源專利代理有限公司 代理人 孟金喆
地址 215151江蘇省蘇州市高新區(qū)建林路666號(hào)出口加工區(qū)配套工業(yè)園28號(hào)廠房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種霍爾效應(yīng)電壓確定方法及霍爾測(cè)試系統(tǒng),涉及半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。該霍爾效應(yīng)電壓確定方法包括:采用范德堡法,在施加失調(diào)補(bǔ)償電壓的同時(shí),在測(cè)試磁場(chǎng)值和測(cè)試激勵(lì)電流值下獲取材料樣品的電壓數(shù)據(jù);根據(jù)電壓數(shù)據(jù),計(jì)算獲得初始霍爾電壓;根據(jù)電壓數(shù)據(jù),計(jì)算獲得霍爾電壓校正值;根據(jù)初始霍爾電壓和霍爾電壓校正值,確定材料樣品的霍爾效應(yīng)電壓。通過獲取材料樣品的電壓數(shù)據(jù),并且根據(jù)電壓數(shù)據(jù)計(jì)算出表示材料樣品的失調(diào)電壓對(duì)霍爾效應(yīng)電壓的影響的霍爾電壓校正值,再根據(jù)初始霍爾電壓和霍爾電壓校正值確定材料樣品的霍爾效應(yīng)電壓,從而可以大幅降低霍爾測(cè)試中失調(diào)電壓對(duì)霍爾效應(yīng)電壓結(jié)果的影響,提高所獲得的霍爾效應(yīng)電壓的準(zhǔn)確度。??