三維磁場探針臺(tái)測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202021326388.1 申請日 -
公開(公告)號(hào) CN212905398U 公開(公告)日 2021-04-06
申請公布號(hào) CN212905398U 申請公布日 2021-04-06
分類號(hào) G01R1/073(2006.01)I;G01R33/12(2006.01)I;G01R33/00(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 張學(xué)瑩;林冠屹;王麟 申請(專利權(quán))人 致真精密儀器(青島)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京智繪未來專利代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 趙卿;肖繼軍
地址 266100山東省青島市嶗山區(qū)松嶺路393號(hào)北京航空航天大學(xué)青島研究院6號(hào)樓3層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種三維磁場探針臺(tái)測試系統(tǒng),包括:基座、三維電磁鐵模塊、樣品承載模塊、探針臺(tái)模塊、顯微測量裝置;三維電磁鐵模塊包括:三維電磁鐵,磁鐵橋架和勵(lì)磁電源,三維電磁鐵為五極電磁鐵,包括一個(gè)垂直磁極和四個(gè)水平磁極或四極電磁鐵,包括四個(gè)水平磁極;使用勵(lì)磁電源同時(shí)為五個(gè)或四個(gè)磁極的線圈提供相應(yīng)的電流同時(shí)獲得包含水平方向和/或垂直方向組成的磁場、并且根據(jù)樣品的幾何尺寸,可以調(diào)整三維電磁鐵的磁極之間的間距并選擇樣品臺(tái),最高可兼容24英寸樣品進(jìn)行測試,達(dá)到晶圓級樣品測試探針臺(tái)要求;本實(shí)用新型可實(shí)現(xiàn)三維磁場探針測試功能,滿足較大樣品的測試需求,穩(wěn)定性高,并可以通過計(jì)算機(jī)軟件自動(dòng)控制。??