檢測光學(xué)系統(tǒng)任意波長透射波前的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910573002.2 申請日 -
公開(公告)號 CN110307962B 公開(公告)日 2019-10-08
申請公布號 CN110307962B 申請公布日 2019-10-08
分類號 G01M11/02(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 張齊元;韓森;吳鵬;王全召;李雪園 申請(專利權(quán))人 蘇州維納儀器有限責(zé)任公司
代理機構(gòu) 上海德昭知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 郁旦蓉
地址 215123江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)仁愛路150第二教學(xué)樓B109室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了兩種檢測光學(xué)系統(tǒng)任意波長透射波前的方法,一種是利用4種波長為λ1~λ4的激光干涉儀分別對復(fù)消色差光學(xué)系統(tǒng)進行檢測,進而通過Zernike多項式擬合波長為λn的光學(xué)系統(tǒng)的透射波前;另一種是通過利用4種波長為λ1~λ4的檢測裝置分別對光學(xué)系統(tǒng)進行檢測,進而通過離散點波前像差公式得到波長為λn的光學(xué)系統(tǒng)完整的透射波前。這兩種方法均能夠應(yīng)用在單波長系統(tǒng)、消色差系統(tǒng)以及復(fù)消色差系統(tǒng)中,從而解決主要的透射式光學(xué)系統(tǒng)任意波長波前檢測的問題。不僅使得特殊波長的激光干涉儀的檢測范圍變大,而且當(dāng)需要檢測一些特殊的光學(xué)系統(tǒng)時,也不需要使用造價昂貴的特殊波長的激光干涉儀進行檢測,節(jié)約了檢測成本。??