檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)任意波長透射波前的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010928541.6 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN111999042A 公開(公告)日 2020-11-27
申請(qǐng)公布號(hào) CN111999042A 申請(qǐng)公布日 2020-11-27
分類號(hào) G01M11/02(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 張齊元;韓森;吳鵬;王全召;李雪園 申請(qǐng)(專利權(quán))人 蘇州維納儀器有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 上海德昭知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 郁旦蓉
地址 215123江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)仁愛路150第二教學(xué)樓B109室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)任意波長透射波前的方法,利用4種波長為λ1~λ4的檢測(cè)裝置分別對(duì)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè),再通過波前離散點(diǎn)Hλm(xi,yi)與波長公式計(jì)算得到光學(xué)系統(tǒng)在波長為λn時(shí)的透射波前。本方法均能夠應(yīng)用在單波長系統(tǒng)、消色差系統(tǒng)以及復(fù)消色差系統(tǒng)中,從而解決主要的透射式光學(xué)系統(tǒng)任意波長波前檢測(cè)的問題。不僅使得特殊波長的激光干涉儀的檢測(cè)范圍變大,而且當(dāng)需要檢測(cè)一些特殊的光學(xué)系統(tǒng)時(shí),也不需要使用造價(jià)昂貴的特殊波長的激光干涉儀進(jìn)行檢測(cè),節(jié)約了檢測(cè)成本。??