低功耗低溫漂與工藝無關(guān)的電壓檢測電路
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN200310122085.2 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN1635383A | 公開(公告)日 | 2005-07-06 |
| 申請公布號 | CN1635383A | 申請公布日 | 2005-07-06 |
| 分類號 | G01R19/165 | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 羅鵬 | 申請(專利權(quán))人 | 上海貝嶺矽創(chuàng)微電子有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 上海專利商標事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 上海貝嶺股份有限公司;上海貝嶺矽創(chuàng)微電子有限公司 |
| 地址 | 200233上海市宜山路810號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明涉及一種低功耗低溫漂與工藝無關(guān)的電壓檢測電路,包括:三路分壓電路、開關(guān)電路、整形電路;分壓電路由PMOS管P0至P3、PMOS管P5至P8和晶體管Q0以及MOS管P9至P12組成三組分壓電路;開關(guān)電路由NMOS管N0構(gòu)成;NMOS管N0柵極連接至分壓電路A處,NMOS管N0源極和PNP晶體管Q1源極連接至分壓電路B處,NMOS管N0漏極連接至分壓電路III的C處,PNP晶體管Q1的基極和集電極接地;整形電路由施密特觸發(fā)器組成;其特點是:在分壓電路1的分支上串接了一由NMOS管N0構(gòu)成的電壓漂移補償電路和由PNP管Q1構(gòu)成的負溫度系數(shù)補償電路。由此本發(fā)明在溫度變化時輸出值LVR電壓值基本不變,改善了工藝偏差帶來的LVR電壓漂移,達到了電壓檢測電路低功耗低溫漂且與工藝無關(guān)的效果。 |





