一種測斜方位數(shù)據(jù)的校正方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111355643.4 申請日 -
公開（公告）號 CN114064337A 公開（公告）日 2022-02-18
申請公布號 CN114064337A 申請公布日 2022-02-18
分類號 G06F11/07（2006.01）I;E21B47/022（2012.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 柳杰;李芳;陳曉波;王生煥;諸夢青;曾鑫;周升升;徐歡;林哲銳 申請（專利權(quán)）人 杭州豐禾測控技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京品源專利代理有限公司 代理人 蘇舒音
地址 310030浙江省杭州市余杭區(qū)仁和街道臨港路1-3號3號廠房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實施例公開了一種測斜方位數(shù)據(jù)的校正方法，包括：獲取設(shè)定采樣時間內(nèi)的傳感器數(shù)據(jù)；對傳感器數(shù)據(jù)進行濾波及校正處理，獲得目標傳感器數(shù)據(jù)；根據(jù)目標傳感器數(shù)據(jù)，結(jié)合設(shè)定公式，確定校正后的測斜方位數(shù)據(jù)。本發(fā)明實施例提供的測斜方位數(shù)據(jù)的校正方法，在不改變儀器硬件電路和機械結(jié)構(gòu)的情況下，利用校正算法對傳感器采集到的磁通門傳感器數(shù)據(jù)和加速度傳感器數(shù)據(jù)進行校正，進而根據(jù)校正后的數(shù)據(jù)確定最終的測斜方位數(shù)據(jù)，提高了測斜方位數(shù)據(jù)的準確性，為實時鉆井和地層測井評價等工作提供了可靠數(shù)據(jù)支撐。