一種利用吸收式μ介子放射線照相法檢測和定位結(jié)構(gòu)的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910983920.2 申請日 -
公開（公告）號 CN110727032A 公開（公告）日 2020-01-24
申請公布號 CN110727032A 申請公布日 2020-01-24
分類號 G01V5/00;G01N23/06 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳倩倩;方敏;李揚;袁榮;王濤 申請（專利權(quán)）人 亳州文青測量技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 蕪湖思誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 房文亮
地址 236800 安徽省亳州市譙城區(qū)亳州蕪湖現(xiàn)代產(chǎn)業(yè)園區(qū)合歡路76號科技孵化樓內(nèi)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種利用吸收式μ介子放射線照相法檢測和定位結(jié)構(gòu)的方法，涉及探測技術(shù)領(lǐng)域，該方法中包括用于探測用的處理器和探測器鏡頭，為檢測和跟蹤通過預(yù)定體積的μ介子的裝置，所述方法包括以下步驟：μ介子的第一組軌跡的獲取，μ介子的第二組軌跡的獲取，識別映射區(qū)域的邊界以獲得信號區(qū)域以及計算通過信號區(qū)域的結(jié)構(gòu)的大小和形狀，本發(fā)明的方法用于被包裹在大量其他物質(zhì)中的物體的檢測、定位以及幾何重建，尤其是隱藏的腔體類物質(zhì)或重物，同時還具有更高的精度。