一種測量基板、封裝器件、制備方法及信號測量的方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201811572162.7 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN109786265A | 公開(公告)日 | 2019-05-21 |
| 申請公布號 | CN109786265A | 申請公布日 | 2019-05-21 |
| 分類號 | H01L21/50(2006.01)I; H01L21/56(2006.01)I; H01L21/66(2006.01)I; H01L23/31(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 錢芳斌; 付志平; 梁廣慶; 鄧恩華; 李志雄 | 申請(專利權(quán))人 | 中山市江波龍電子有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 中山市江波龍電子有限公司 |
| 地址 | 528437 廣東省中山市火炬開發(fā)區(qū)博愛七路191號2幢 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請公開了一種測量基板、封裝器件、制備方法及信號測量的方法,所述測量基板包括:第一基層;測試電極,位于所述第一基層上,所述測試電極用于與封裝基板或芯片上的待測信號焊盤電連接,以及與測試儀器的探針電連接。通過上述方式,本申請能夠?qū)y試電極預(yù)留在封裝器件內(nèi)部,降低待測信號焊盤與測試電極之間的距離。 |





