用以提升集成電路設(shè)計(jì)的時(shí)序性能的方法及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201710482037.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN107203676B | 公開（公告）日 | 2022-02-25 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN107203676B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-02-25 |
| 分類號(hào) | G06F30/3315（2020.01）I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 耿保林;林哲民;李翊;李冰 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 格蘭菲智能科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 劉新宇 |
| 地址 | 201203 上海市浦東新區(qū)中國(guó)（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)金科路2557號(hào)201室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 一種用以提升集成電路設(shè)計(jì)的時(shí)序性能的方法及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，該用以提升一集成電路設(shè)計(jì)的時(shí)序性能的方法包括：設(shè)定關(guān)于時(shí)序性能的多個(gè)既定參數(shù)及其對(duì)應(yīng)參考指標(biāo)；取得關(guān)于集成電路設(shè)計(jì)的一時(shí)序分析報(bào)告，其中集成電路設(shè)計(jì)包括多個(gè)路徑且時(shí)序分析報(bào)告包括每一路徑的一時(shí)序信息；根據(jù)時(shí)序信息，從路徑中決定至少一關(guān)鍵路徑；擷取至少一關(guān)鍵路徑的既定參數(shù)的多個(gè)參數(shù)值，并根據(jù)參數(shù)值與對(duì)應(yīng)參考指標(biāo)，決定多個(gè)異常參數(shù)；根據(jù)異常參數(shù)，產(chǎn)生一診斷結(jié)果；以及根據(jù)診斷結(jié)果，產(chǎn)生一優(yōu)化建議信息，從而根據(jù)優(yōu)化建議信息提升至少一關(guān)鍵路徑的時(shí)序性能。 |
