一種用于閃爍晶體陣列的模具及閃爍晶體陣列
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202220501592.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN217034268U | 公開（公告）日 | 2022-07-22 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN217034268U | 申請(qǐng)公布日 | 2022-07-22 |
| 分類號(hào) | G01T1/202（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 薛帥;狄聚青;劉運(yùn)連 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 安徽光智科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 239000安徽省滁州市瑯琊經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)南京路100號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)公開了一種用于閃爍晶體陣列的模具及閃爍晶體陣列，涉及閃爍晶體探測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，其中用于閃爍晶體陣列的模具包括，呈網(wǎng)格狀的框體以及底板。其中，框體上的網(wǎng)格孔均勻分布且一一對(duì)應(yīng)用于容置晶條，且每個(gè)網(wǎng)格孔內(nèi)壁均涂覆有第一反光涂層。底板覆蓋連接于框體底部且在朝向框體的一面上涂覆有第二反光涂層。該模具能夠提高制作的晶體陣列的晶條排列均勻性、晶條間隙均勻性以及使得制作的晶體陣列中的晶條容易更換。 |
