一種用于相控陣天線高低溫試驗(yàn)的微波屏蔽測(cè)試罩

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202120703014.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN214545335U 公開(kāi)（公告）日 2021-10-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN214545335U 申請(qǐng)公布日 2021-10-29
分類號(hào) H05K9/00（2006.01）I;H01Q1/12（2006.01）I 分類 其他類目不包含的電技術(shù);
發(fā)明人 李冬;李超;邱忠云;余浪;呂清剛;易亮 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 成都華芯天微科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都華風(fēng)專利事務(wù)所（普通合伙） 代理人 李曉
地址 610000四川省成都市中國(guó)（四川）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)成都高新區(qū)天府大道北段1700號(hào)3棟3單元12層1207號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于相控陣天線高低溫試驗(yàn)的微波屏蔽測(cè)試罩，涉及相控陣天線高低溫試驗(yàn)用設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，主要用于解決相控陣天線在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)時(shí)會(huì)受到溫度試驗(yàn)箱影響，導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)出現(xiàn)誤差的問(wèn)題。其主要結(jié)構(gòu)為：包括測(cè)試罩主體，測(cè)試罩主體的一端設(shè)有錐形蓋，另一端設(shè)有天線安裝法蘭環(huán)，測(cè)試罩主體和錐形蓋內(nèi)壁上皆設(shè)有吸波內(nèi)襯，錐形蓋軸心處設(shè)有直波導(dǎo)和測(cè)試接頭。本實(shí)用新型提供的一種用于相控陣天線高低溫試驗(yàn)的微波屏蔽測(cè)試罩，用該測(cè)試罩遮蓋相控陣列天線，能使相控陣天線不再受溫度試驗(yàn)箱帶來(lái)的其它因素的影響，保證了溫度試驗(yàn)測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。