一種光學(xué)晶體吸收損耗的測量方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011034655.2 申請日 -
公開（公告）號 CN112179626A 公開（公告）日 2021-01-05
申請公布號 CN112179626A 申請公布日 2021-01-05
分類號 G01M11/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 尹志軍;崔國新;倪榮萍;許志城 申請（專利權(quán)）人 南京南智先進(jìn)光電集成技術(shù)研究院有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 南京南智先進(jìn)光電集成技術(shù)研究院有限公司
地址 210000 江蘇省南京市江北新區(qū)研創(chuàng)園團(tuán)結(jié)路99號孵鷹大廈690室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┮环N光學(xué)晶體吸收損耗的測量方法及裝置。所述方法包括：根據(jù)待測晶體和吸收損耗已知的標(biāo)準(zhǔn)晶體構(gòu)建測量系統(tǒng)，其中，待測晶體與標(biāo)準(zhǔn)晶體關(guān)于預(yù)設(shè)基準(zhǔn)線軸對稱，拾音器位于基準(zhǔn)線的預(yù)設(shè)位置上，兩束初始參數(shù)相同的脈沖激光分別照射在待測晶體的目標(biāo)測點(diǎn)以及標(biāo)準(zhǔn)晶體的對稱測點(diǎn)上；利用構(gòu)建好的測量系統(tǒng)進(jìn)行測量時，在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)調(diào)節(jié)兩束脈沖激光的相位差，利用拾音器獲取不同相位差下的聲波干涉強(qiáng)度，再結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)晶體的吸收損耗、脈沖激光的光強(qiáng)和標(biāo)準(zhǔn)晶體的尺寸，確定待測晶體的吸收損耗。整個過程中，拾音器無需設(shè)置在待測晶體表面，位置較為靈活，使得最終的測量結(jié)果不受待測晶體的形狀和拾音器擺放位置的影響，準(zhǔn)確度較高。