D-二聚體磁微?；瘜W(xué)發(fā)光檢測試劑盒及其應(yīng)用

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010649150.0 申請日 -
公開（公告）號 CN111781389A 公開（公告）日 2020-10-16
申請公布號 CN111781389A 申請公布日 2020-10-16
分類號 G01N33/86(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 郝樹彬;謝清華;郭宣城;趙鳳;李靜;王珍 申請（專利權(quán)）人 山東博科診斷科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 250101山東省濟(jì)南市高新區(qū)工業(yè)南路51號小鴨工業(yè)園辦公樓909室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種D?二聚體磁微?；瘜W(xué)發(fā)光檢測試劑盒及其應(yīng)用，涉及生物技術(shù)領(lǐng)域。所述試劑盒包括校準(zhǔn)品、質(zhì)控品、抗試劑、磁微粒試劑和發(fā)光底物，其中，所述抗試劑1為由異硫氰酸熒光素標(biāo)記的D?二聚體抗體1和由異硫氰酸熒光素標(biāo)記的D?二聚體抗體2抗體按照體積比1:1混合而成的溶液；所述抗試劑2為由堿性磷酸酶標(biāo)記的D?二聚體抗體3和由堿性磷酸酶標(biāo)記的D?二聚體抗體4按照體積比1:1混合而成的溶液；D?二聚體抗體1為結(jié)合D片段表面抗原表位的抗體，D?二聚體抗體2為結(jié)合X片段表面抗原表位的抗體，D?二聚體抗體3為結(jié)合D片段表面抗原表位的抗體，D?二聚體抗體4為結(jié)合Y片段表面抗原表位的抗體。本發(fā)明可以顯著提高檢測試劑檢驗結(jié)果的準(zhǔn)確性。??