待測(cè)試模塊的測(cè)試電路、方法及裝置
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110487704.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN113295943A | 公開(公告)日 | 2021-08-24 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113295943A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-08-24 |
| 分類號(hào) | G01R31/00 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 李晶;周奕;張露陽(yáng);李文星 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 地平線征程(杭州)人工智能科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京思源智匯知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 毛麗琴 |
| 地址 | 310051 浙江省杭州市濱江區(qū)西興街道月明路560號(hào)1幢1號(hào)樓第5層5012室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 公開了一種待測(cè)試模塊的測(cè)試電路、方法及裝置。該電路包括:測(cè)試數(shù)據(jù)產(chǎn)生模塊和功能安全模塊;測(cè)試數(shù)據(jù)產(chǎn)生模塊包括:多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)產(chǎn)生單元,每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)產(chǎn)生單元分別與功能安全模塊電連接;每個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)產(chǎn)生單元用于基于與該測(cè)試數(shù)據(jù)產(chǎn)生單元所支持的數(shù)據(jù)類型相一致的原始數(shù)據(jù),生成與數(shù)據(jù)類型相一致的測(cè)試數(shù)據(jù);功能安全模塊與待測(cè)試模塊電連接,用于對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)運(yùn)算處理,以得到第一處理結(jié)果,基于測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)運(yùn)算處理和錯(cuò)誤注入處理,以得到第二處理結(jié)果;待測(cè)試模塊用于基于測(cè)試數(shù)據(jù)、第一處理結(jié)果、第二處理結(jié)果,生成測(cè)試結(jié)果。本公開的實(shí)施例能夠?qū)崿F(xiàn)多路測(cè)試,從而能夠滿足對(duì)多路輸入進(jìn)行處理的應(yīng)用要求。 |





