故障定位方法和故障定位裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202110767042.8 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN113466740A | 公開(公告)日 | 2021-10-01 |
| 申請公布號 | CN113466740A | 申請公布日 | 2021-10-01 |
| 分類號 | G01R31/52(2020.01)I;G01J5/10(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 王君兆;黃偉 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市美信咨詢有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 王闖 |
| 地址 | 518108廣東省深圳市寶安區(qū)石巖街道松白公路北側(cè)方正科技工業(yè)園研發(fā)樓109室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本申請?zhí)峁┮环N故障定位方法和故障定位裝置,涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域。故障定位方法:利用故障IC載板的版圖和阻抗測試結(jié)果預(yù)判疑似故障區(qū)域,然后對疑似故障區(qū)域進行研磨處理;將研磨處理后的故障IC載板通電,對通電的故障IC載板進行熱成像,獲得溫度異常區(qū)域,溫度異常區(qū)域為漏電故障位置。故障定位裝置,包括阻抗檢測模塊、研磨模塊、供電模塊和紅外成像模塊,阻抗檢測模塊用于檢測故障IC載板的阻抗,研磨模塊用于對故障IC載板的疑似故障區(qū)域進行研磨處理,供電模塊用于對研磨處理后的故障IC載板通電,紅外成像模塊用于對通電的故障IC載板進行熱成像。本申請?zhí)峁┑墓收隙ㄎ环椒ê凸收隙ㄎ谎b置,定位精準(zhǔn)、成功率高、耗時短。 |





