一種線掃描式蜂窩陶瓷檢測裝置
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201520321643.6 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN204613125U | 公開(公告)日 | 2015-09-02 |
| 申請公布號 | CN204613125U | 申請公布日 | 2015-09-02 |
| 分類號 | G01N21/89(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
| 發(fā)明人 | 韓立;鞠昱;劉俊標(biāo);熊楠;李世清 | 申請(專利權(quán))人 | 無錫惠科電工高新技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人 | 邵驊 |
| 地址 | 214174 江蘇省無錫市惠山經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)風(fēng)電園創(chuàng)惠路1號3006-3015室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本實(shí)用新型公開一種線掃描式蜂窩陶瓷檢測裝置,該裝置將光源設(shè)置于待檢測蜂窩陶瓷的任一端面處;與所述光源的位置相對應(yīng),將線掃描成像陣列設(shè)置于所述待檢測蜂窩陶瓷的另一端面處;通過線掃描成像陣列獲得待檢測蜂窩陶瓷整個端面的掃描圖像,該掃描圖像在通過處亮,孔壁處暗,與投影拍照方式獲得的圖像一致,可實(shí)現(xiàn)600dpi的分辨率,而一般蜂窩陶瓷的壁厚在亞毫米量級。另外,由于像CIS的掃描成像陣列是基于微透鏡線陣成像,所獲得圖像在單獨(dú)點(diǎn)上不受其他點(diǎn)影響,能夠真實(shí)的反應(yīng)待檢測蜂窩陶瓷的真實(shí)情況,從而提高了對蜂窩陶瓷各特征的檢測效率和準(zhǔn)確率。 |





