涂層導(dǎo)體金屬基帶表面缺陷的動(dòng)態(tài)監(jiān)測裝置及檢測方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202010861680.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN111982919A | 公開（公告）日 | 2020-11-24 |
| 申請公布號(hào) | CN111982919A | 申請公布日 | 2020-11-24 |
| 分類號(hào) | G01N21/88(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 汪洋;豆文芝;蔡傳兵;菅洪彬;王濤 | 申請（專利權(quán)）人 | 上海上創(chuàng)超導(dǎo)科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海浦東良風(fēng)專利代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 上海上創(chuàng)超導(dǎo)科技有限公司 |
| 地址 | 201400上海市奉賢區(qū)望園路2066弄4號(hào)樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種金屬基帶表面缺陷動(dòng)態(tài)監(jiān)測裝置及檢測方法，主要解決現(xiàn)有裝置和方法只能通過單個(gè)的點(diǎn)測試來描述長帶且僅采用灰度檢測不能對產(chǎn)品進(jìn)行等級(jí)分類的技術(shù)問題。本發(fā)明動(dòng)態(tài)監(jiān)測裝置，包括生產(chǎn)線繞帶裝置，在金屬基帶上方設(shè)有上表面檢測橋架及照明裝置，在金屬基帶下方設(shè)有下表面檢測橋架及照明裝置，生產(chǎn)線繞帶裝置、上表面檢測橋架及照明裝置、下表面檢測橋架及照明裝置分別將生產(chǎn)信號(hào)和圖像及控制信號(hào)通過線纜傳送給計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)在線分析產(chǎn)品表面圖像的各種特征，實(shí)現(xiàn)對表面缺陷的定位、檢測、測量，然后將數(shù)據(jù)通過網(wǎng)絡(luò)傳送給報(bào)警監(jiān)控計(jì)算機(jī)，輸出各種即時(shí)和延遲信號(hào)。?? |
