結晶器材料檢測用激光粒度分析儀

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201420021787.5 申請日 -
公開（公告）號 CN203785997U 公開（公告）日 2014-08-20
申請公布號 CN203785997U 申請公布日 2014-08-20
分類號 G01N15/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王旭 申請（專利權）人 德陽東合新材料科技有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 618000 四川省德陽市旌陽區(qū)工業(yè)集中發(fā)展區(qū)永定河西路2號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種結晶器材料檢測用激光粒度分析儀，擴束鏡和傅里葉變換透鏡通過一密封的殼體固定在一起，激光器和殼體均通過調節(jié)螺桿安裝在支撐架上；所述支撐架的底板上安裝有一探測器導軌，探測器導軌的上表面開設有一卡槽，其下表面設置有一凹槽，其中部開設有一條形槽；所述光電探測器活動的安裝在探測器導軌上表面的卡槽內，探測器導軌下表面的凹槽內設置有一與光電探測器連接的微處理器，所述微處理器上連接有通訊接口。將傅里葉變換透鏡、擴束鏡和激光器安裝在同一個調節(jié)螺桿上，且三者的中軸線都位于同一直線上，在調整這幾個部件時都能保證激光束位于同一直線上，保證了光路的穩(wěn)定性，提高了測量的準確性。