一種半導(dǎo)體可靠性評(píng)估方法及裝置
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201810985436.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN109145460A | 公開(公告)日 | 2019-01-04 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN109145460A | 申請(qǐng)公布日 | 2019-01-04 |
| 分類號(hào) | G06F17/50 | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 不公告發(fā)明人 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 洪啟集成電路(珠海)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 200120 上海市浦東新區(qū)南匯新城鎮(zhèn)環(huán)湖西二路888號(hào)C樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提供一種半導(dǎo)體快速可靠性評(píng)估方法及裝置,包括高效且可靠的可靠性基準(zhǔn)(BL)管理系統(tǒng)和基于序貫概率比測(cè)試(SPRT)的測(cè)試方案。為確保SPRT測(cè)試方案的可信設(shè)置,應(yīng)用貝葉斯方法不斷更新BL數(shù)據(jù)庫。這是SPRT第一次應(yīng)用于具有兩個(gè)未知參數(shù)的可靠性風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估。應(yīng)用本發(fā)明提供的方法及裝置,可以快速測(cè)得半導(dǎo)體的可靠性,減少樣本量和測(cè)試時(shí)間。 |





