一種片式電子元器件測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811266519.9 申請日 -
公開（公告）號 CN109541340A 公開（公告）日 2019-03-29
申請公布號 CN109541340A 申請公布日 2019-03-29
分類號 G01R31/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳月光; 卞德東; 高洪利; 楊永征; 宋桂濤 申請（專利權(quán)）人 山東同方魯穎電子有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 276300山東省臨沂市沂南縣金波路山東同方魯穎電子有限公司
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種片式電子元器件測試裝置，包括絕緣板，所述絕緣板的頂部固定連接有負電極板，所述負電極板底部的右側(cè)鑲嵌有連接器件銅塊，所述連接器件銅塊的內(nèi)腔固定連接有絕緣層，所述絕緣層的頂部貫穿設(shè)置有測試針，所述測試針的底端貫穿至連接器件銅塊的底部，所述負電極板頂部的右側(cè)固定連接有測量支撐絕緣底板，所述測量支撐絕緣底板的頂部開設(shè)有滑槽。該片式電子元器件測試裝置，通過正負電極的面接觸和壓簧的力度控制，提高了產(chǎn)品測試精度，對產(chǎn)品的品質(zhì)因數(shù)的測量精度的改善，本測試裝置，不僅提高了片式電感的測試精度，而且制造和維護成本低，還使用方便，并且調(diào)節(jié)簡單易上手。