IC卡圖像缺陷檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111344512.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113781486B 公開（公告）日 2022-03-15
申請公布號 CN113781486B 申請公布日 2022-03-15
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/70（2017.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 劉帥;程世翀;徐曉亮;韓碩 申請（專利權(quán)）人 新恒匯電子股份有限公司
代理機構(gòu) 青島發(fā)思特專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 劉濤
地址 255086山東省淄博市高新區(qū)中潤大道187號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及IC卡外觀圖像采集處理技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種IC卡圖像缺陷檢測方法。該IC卡圖像缺陷檢測方法包括以下步驟：步驟一：標(biāo)記芯片ID，接收存儲載帶上芯片的位置信息，位置信息對應(yīng)到相應(yīng)的芯片ID中；步驟二：接收載帶上對應(yīng)位置芯片的正反面圖像信息進行分析判斷；步驟二中圖像分析判斷，包括以下子步驟：2?1：正面圖像分析；2?2：背面圖像分析；步驟三：芯片的數(shù)據(jù)信息及分析檢測信息匯總在對應(yīng)ID下，寫入數(shù)據(jù)庫存儲。提供一種提高檢測效率及準(zhǔn)確率的IC卡圖像缺陷檢測方法。