一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811384773.9 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN109577965B 公開（公告）日 2022-07-05
申請公布號(hào) CN109577965B 申請公布日 2022-07-05
分類號(hào) E21B49/00（2006.01）I 分類 土層或巖石的鉆進(jìn)；采礦;
發(fā)明人 李劍浩;周軍;劉昱晟;李國軍;王偉;倪路橋;陳小磊 申請（專利權(quán)）人 中國石油集團(tuán)測井有限公司
代理機(jī)構(gòu) 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 代理人 -
地址 100007北京市東城區(qū)東直門北大街9號(hào)中國石油大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種井壁微電阻率掃描成像測井儀的分段刻度方法，包括：將井壁微電阻率掃描成像測井儀置入已知不同電阻率的標(biāo)準(zhǔn)地層中；通過所述井壁微電阻率掃描成像測井儀的陣列電極向標(biāo)準(zhǔn)地層中發(fā)射電流，測量不同電阻率環(huán)境下儀器各電極的響應(yīng)讀數(shù)；根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)地層電阻率數(shù)值與電極響應(yīng)讀數(shù)，確定所述井壁微電阻率掃描成像測井儀在不同電阻率區(qū)間下響應(yīng)讀數(shù)與真電阻率的函數(shù)關(guān)系，實(shí)現(xiàn)井壁微電阻率掃描成像測井儀測量得到的視電阻率向真電阻率的刻度。本發(fā)明解決了井壁微電阻率掃描成像測井儀無法直接獲取地層真電阻率的問題。