一種PCB天線測(cè)試裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201810582591.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN108957148B | 公開(kāi)（公告）日 | 2018-12-07 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN108957148B | 申請(qǐng)公布日 | 2018-12-07 |
| 分類號(hào) | G01R29/10(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 楊小雨;姚利杰;儲(chǔ)祝君 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 杭州利爾達(dá)展芯科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 杭州杭誠(chéng)專利事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 杭州利爾達(dá)展芯科技有限公司 |
| 地址 | 311700浙江省杭州市淳安縣千島湖鎮(zhèn)珍珠五路199號(hào)1幢1樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種PCB天線測(cè)試裝置，用于測(cè)試帶有PCB天線的PCBA產(chǎn)品，包括：設(shè)置在所述PCBA產(chǎn)品射頻電路上的特定測(cè)試電路；測(cè)試工裝；所述測(cè)試工裝通過(guò)所述特定測(cè)試電路對(duì)所述PCBA產(chǎn)品射頻電路進(jìn)行檢測(cè)；以及用于產(chǎn)測(cè)的測(cè)試儀器；所述測(cè)試儀器通過(guò)測(cè)試電纜與測(cè)試工裝連接；所述特定測(cè)試電路包括：MLCC電容、傳輸線以及測(cè)試點(diǎn)；所述MLCC電容第一端與被測(cè)射頻電路上靠近巴倫電路的50Ohm點(diǎn)連接；所述MLCC電容第二端通過(guò)所述傳輸線與所述測(cè)試點(diǎn)連接；所述測(cè)試工裝上設(shè)有高頻測(cè)試針，所述高頻測(cè)試針與所述測(cè)試點(diǎn)連接，所述高頻測(cè)試針通過(guò)測(cè)試電纜與測(cè)試儀器連接。?? |
