一種利用計算機檢測瓦楞紙品質的方法、瓦楞紙生產控制系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> 2020105588250 申請日 -
公開（公告）號 CN111724368B 公開（公告）日 2020-09-29
申請公布號 CN111724368B 申請公布日 2020-09-29
分類號 G06T7/00(2017.01)I; 分類 計算；推算；計數;
發(fā)明人 邱祉海;關飛;蔡旭初;陳兆海 申請（專利權）人 杭州利鵬科技有限公司
代理機構 浙江專橙律師事務所 代理人 朱孔妙
地址 310018浙江省杭州市經濟技術開發(fā)區(qū)6號大街452號高科技企業(yè)孵化器1號樓3B01室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種利用計算機檢測瓦楞紙品質的方法，用于檢測瓦楞紙厚度尺寸是否大于預設的標準厚度；如果瓦楞紙厚度尺寸大于預設的標準厚度，則為認定為次品；如果瓦楞紙厚度尺寸不大于預設的標準厚度，則為認定為本工段的良品；前景色（S?B1）的顏色值與背景色（S?B2）的顏色值不同。瓦楞紙生產控制系統(tǒng)，采用所述的一種利用計算機檢測瓦楞紙品質的方法，檢測瓦楞紙厚度是否超厚。本發(fā)明提供了一種檢測瓦楞紙品質的新思路；本發(fā)明快速、準確、低成本。??