一種芯片測試設備的驅(qū)動機構(gòu)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022072108.5 申請日 -
公開(公告)號 CN213337902U 公開(公告)日 2021-06-01
申請公布號 CN213337902U 申請公布日 2021-06-01
分類號 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I;H05K7/20(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 萬里春;劉偉波;王俊杰 申請(專利權(quán))人 鹽城市天達微電子有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 224000江蘇省鹽城市鹽南高新區(qū)新躍路26號大數(shù)據(jù)產(chǎn)業(yè)園5幢1層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型屬于降溫機構(gòu)技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種芯片測試設備的驅(qū)動機構(gòu),針對現(xiàn)有的芯片測試設備的驅(qū)動機構(gòu),在對芯片逐一檢測的時候,會出現(xiàn)發(fā)熱發(fā)燙的現(xiàn)象問題,現(xiàn)提出如下方案,其包括檢測箱,所述檢測箱內(nèi)固定安裝有隔板,隔板設有開設有通氣孔,隔板的底部連通由回流管,所述檢測箱的兩側(cè)內(nèi)壁上固定安裝有支桿,支桿的一端固定連接有檢測器,所述隔板上固定安裝有大功率電源,隔板上轉(zhuǎn)動連接有第一轉(zhuǎn)動桿,第一轉(zhuǎn)動桿上固定連接有第一錐齒輪,第一轉(zhuǎn)動桿的一端固定連接有圓盤,圓盤上固定安裝有液壓泵。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單,在對芯片進行檢測的同時可對驅(qū)動機構(gòu)進行降溫,方便人們使用。??