基于深度學習的聯(lián)合多個通道產(chǎn)品缺陷分類方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN202010483651.6 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN111709918A | 公開(公告)日 | 2020-09-25 |
| 申請公布號 | CN111709918A | 申請公布日 | 2020-09-25 |
| 分類號 | G06T7/00(2017.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
| 發(fā)明人 | 許琦;王立軍;朱天同;潘勇;莫仲念;劉飛月 | 申請(專利權)人 | 深圳市深視創(chuàng)新科技有限公司 |
| 代理機構 | 深圳市中智立信知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人 | 深圳市深視創(chuàng)新科技有限公司 |
| 地址 | 518000廣東省深圳市南山區(qū)科技園高新中一道2號長園新材5棟1樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種基于深度學習的聯(lián)合多個通道產(chǎn)品缺陷分類方法,包括:導入產(chǎn)品需要訓練的每一通道圖像,手動標注單個通道圖像的缺陷位置區(qū)域和類型;設置訓練參數(shù),按模型尺寸對缺陷位置處進行裁切,生成單個通道小圖;開始訓練,待訓練周期數(shù)達到設置值后自動結束訓練,并保存驗證集測試效果最佳的模型;導入事先準備好的檢測和聯(lián)合多通道分類模型,按固定尺寸和步長遍歷圖像所有區(qū)域,若檢測模型判為缺陷,再將該產(chǎn)品對應的所有通道該區(qū)域的所有小圖切出,進行聯(lián)合多通道缺陷分類;匯總所有檢測和聯(lián)合多通道分類結果,將位置相近區(qū)域缺陷進行合并輸出。本發(fā)明的算法通用性強,對比市面上一般深度學習單輸入模式有很大進步和創(chuàng)新。?? |





