一種集成電路測(cè)試用多功能測(cè)試臺(tái)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202021758402.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN213275856U | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN213275856U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-05-25 |
| 分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 劉增紅 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 鎮(zhèn)江矽佳測(cè)試技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 212001江蘇省鎮(zhèn)江市高新區(qū)南徐大道298號(hào)A座高新大廈 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種集成電路測(cè)試用多功能測(cè)試臺(tái)，包括底座，所述底座上設(shè)有收縮測(cè)試結(jié)構(gòu)；所述收縮測(cè)試結(jié)構(gòu)包括：收縮箱體、剪叉升降臺(tái)、四個(gè)滑軌、測(cè)試箱體、測(cè)試組件、箱體蓋、鉸座以及支撐腿，本實(shí)用新型涉及集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，本案采用的收縮測(cè)試結(jié)構(gòu)，通過(guò)內(nèi)置的剪叉升降臺(tái)可實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試箱體的高度調(diào)節(jié)的目的，且在不進(jìn)行測(cè)試時(shí)，還具有收納功能，減少占用空間，通過(guò)內(nèi)置的測(cè)試組件，可將測(cè)試板以及測(cè)試插孔收納進(jìn)測(cè)試箱體內(nèi)，在不使用時(shí)可有效地保護(hù)測(cè)試插孔不受到破壞，從而有效的解決了現(xiàn)有的測(cè)試臺(tái)不具有高度調(diào)節(jié)功能，對(duì)于身高不同的測(cè)試人員來(lái)說(shuō)，使用也不方便，影響使用效率的技術(shù)問(wèn)題。?? |
