平面幾何形狀的識(shí)別方法及裝置
基本信息

| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN200810102194.0 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(公告)號(hào) | CN101539999B | 公開(公告)日 | 2013-03-06 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN101539999B | 申請(qǐng)公布日 | 2013-03-06 |
| 分類號(hào) | G06K9/52(2006.01)I;G06K9/46(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 曾培祥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 北京方正奧德計(jì)算機(jī)系統(tǒng)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京英賽嘉華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 北大方正集團(tuán)有限公司;方正國際軟件(北京)有限公司;方正國際軟件(北京)有限公司 |
| 地址 | 100871 北京市海淀區(qū)成府路298號(hào)中關(guān)村方正大廈513 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種平面幾何形狀的識(shí)別方法,屬于模式識(shí)別領(lǐng)域的基礎(chǔ)技術(shù)范疇。該方法包括:求取目標(biāo)平面幾何形狀的特征信息并保存;選擇至少一個(gè)目標(biāo)平面幾何形狀的特征信息,構(gòu)建識(shí)別目標(biāo)集;求取待識(shí)別平面幾何形狀的特征信息;將待識(shí)別平面幾何形狀的特征信息與識(shí)別目標(biāo)集中的每一個(gè)目標(biāo)平面幾何形狀的特征信息按循環(huán)排序關(guān)系,利用特征點(diǎn)信息進(jìn)行相似性分析處理,并將判定的識(shí)別結(jié)果輸出。本發(fā)明還公開可一種平面幾何形狀的識(shí)別裝置,包括:目標(biāo)特征信息提取模塊、目標(biāo)集創(chuàng)建模塊、待識(shí)別特征信息提取模塊,及識(shí)別模塊。本發(fā)明特征信息求取方法簡單,計(jì)算量大幅度減少,具有統(tǒng)一的識(shí)別規(guī)則和快速準(zhǔn)確的識(shí)別效果。 |





