顯卡驅(qū)動校驗方法、裝置、終端和介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010752108.1 申請日 -
公開（公告）號 CN111930595B 公開（公告）日 2022-03-15
申請公布號 CN111930595B 申請公布日 2022-03-15
分類號 G06F11/30（2006.01）I;G06F11/07（2006.01）I;G06F13/10（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 單晉奎 申請（專利權(quán)）人 長沙景嘉微電子股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京新知遠(yuǎn)方知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 馬軍芳;張艷
地址 410221湖南省長沙市岳麓區(qū)梅溪湖路1號長沙景嘉微電子股份有限公司
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請實施例提供一種顯卡驅(qū)動校驗方法、裝置、終端和介質(zhì)，涉及計算機(jī)技術(shù)，用于克服相關(guān)技術(shù)中顯卡的核內(nèi)驅(qū)動或核外驅(qū)動極易被偽造或篡改的問題。所述方法，包括：在顯卡核內(nèi)驅(qū)動中讀取顯卡的硬件信息正確，且在所述顯卡核內(nèi)驅(qū)動與讀取顯卡固件信息匹配時，創(chuàng)建所述顯卡核內(nèi)驅(qū)動與顯卡核外驅(qū)動的握手通道；在所述顯卡核外驅(qū)動根據(jù)所述顯卡核內(nèi)驅(qū)動發(fā)送的檢驗數(shù)據(jù)及預(yù)設(shè)的檢驗公式確定的檢驗結(jié)果錯誤時，且在確定所述顯卡核外驅(qū)動返回檢驗結(jié)果超時次數(shù)超過設(shè)定次數(shù)時，關(guān)閉所述顯卡核內(nèi)驅(qū)動與顯卡核外驅(qū)動的握手通道，確定所述顯卡核外驅(qū)動異常，控制所述顯卡驅(qū)動結(jié)束運行。