一種壓控晶振頻率測試系統(tǒng)及方案

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011352732.9 申請日 -
公開（公告）號 CN112595890A 公開（公告）日 2021-04-02
申請公布號 CN112595890A 申請公布日 2021-04-02
分類號 G01R23/06(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 唐立 申請（專利權）人 成都恒晶科技有限公司
代理機構 北京和聯(lián)順知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 公茂海
地址 610000四川省成都市武侯區(qū)世紀城南路599號天府軟件園7棟2層201號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明一種壓控晶振頻率測試系統(tǒng)，包括測試板本體，測試板本體上分別設置有待測試壓控晶振頻率、標志頻率源，待測試壓控晶振頻率、標志頻率源通過鎖相環(huán)進行鎖相，鎖相環(huán)輸出符合要求頻率及壓控范圍符合要求的壓控晶振，鎖相環(huán)能正常鎖定，否則不能鎖定，根據(jù)鎖相環(huán)路輸出鎖相結果，完成壓控晶振測試，測試板上采用多個鎖相環(huán)，同時進行多路壓控晶振測試，本發(fā)明可以同時進行多路壓控晶振頻率測試，可以提供壓控晶振測試效率，降低測試成本，提高測試效率。??