一種晶圓表面大深寬比TSV盲孔的清洗方法
基本信息

| 申請?zhí)?/td> | CN201510259860.1 | 申請日 | - |
| 公開(公告)號 | CN104900493A | 公開(公告)日 | 2015-09-09 |
| 申請公布號 | CN104900493A | 申請公布日 | 2015-09-09 |
| 分類號 | H01L21/02(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
| 發(fā)明人 | 賀欣;單光寶;孫有民;杜欣榮;李翔 | 申請(專利權)人 | 中國航天科技集團有限公司 |
| 代理機構 | 西安通大專利代理有限責任公司 | 代理人 | 徐文權 |
| 地址 | 710068 陜西省西安市太白南路198號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要

| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種晶圓表面大深寬比TSV盲孔的清洗方法,取若干晶圓放入超聲擦片機中,利用去離子水沖洗的同時進行超聲擦片;超聲擦片結束后直接將晶圓從超聲擦片機中取出,然后將晶圓放入純IPA清洗液中清洗;將上述清洗過的晶圓取出置于純EKC清洗液中清洗;將上述清洗過的晶圓取出置于純IPA清洗液中清洗;將上述清洗過的晶圓取出置于去離子水槽中沖洗;將上述沖洗過的晶圓甩干。本發(fā)明采用晶圓生產線現(xiàn)有設備和現(xiàn)有清洗液,生產成本較低,且能夠實現(xiàn)多片同時清洗,生產效率較高,滿足大規(guī)模生產的需求。 |





