一種芯片測試異常芯片回收裝置及其工作方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111127556.3 申請日 -
公開（公告）號 CN113953213A 公開（公告）日 2022-01-21
申請公布號 CN113953213A 申請公布日 2022-01-21
分類號 B07C5/344（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 梁文華 申請（專利權(quán)）人 徐州市沂芯微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州市方略專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 薛寓懷
地址 221400江蘇省徐州市新沂市311國道一帶一路智慧光電產(chǎn)業(yè)園18棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種芯片測試異常芯片回收裝置，包括第一輸送帶、芯片測試裝置、芯片換道機(jī)構(gòu)、第二輸送帶、第三輸送帶，所述第一輸送帶穿設(shè)于芯片測試裝置，所述第一輸送帶的輸出端設(shè)有芯片換道機(jī)構(gòu)，所述芯片換道機(jī)構(gòu)周圍沿順時針依次設(shè)有第一輸送帶的輸出端、第二輸送帶的輸入端、第三輸送帶的輸入端，所述第一輸送帶和第二輸送帶之間以及第二輸送帶和第三輸送帶之間分別具有90°的夾角。本發(fā)明所述的芯片測試異常芯片回收裝置，其工作方法簡單有效，通過芯片換道機(jī)構(gòu)將測試異常芯片轉(zhuǎn)運至第二輸送帶進(jìn)行回收，將正常芯片轉(zhuǎn)運至第三輸送帶進(jìn)入下一工序，從而將異常芯片與正常芯片區(qū)分開，避免混亂和降低生產(chǎn)效率，保障產(chǎn)品質(zhì)量。